AI요약

기존 단분자 위치 측정 기술은 낮은 광자 수에서의 정확도 한계, 픽셀 노이즈 문제, 그리고 좁은 측정 면적으로 인해 연구 및 적용에 어려움이 있었습니다. 본 발명은 이러한 문제를 해결하기 위해 구조 조명과 위상 검출을 활용한 단분자 중심위치 측정 장치 및 방법을 제시합니다. 레이저 광을 주기적 패턴의 구조 조명으로 성형하고, 위상을 변화시키며 단분자에서 방출되는 광 신호를 정밀하게 분석하여 중심 위치를 파악합니다. 이 기술은 낮은 광자 수에서도 단분자 위치 측정의 정확도를 획기적으로 개선하며, 이미지 해상도를 크게 향상시킵니다. 또한, 대면적에 임의로 분포된 다수의 단분자 위치를 효율적으로 측정할 수 있어, 기존 초고해상도 현미경 대비 뛰어난 공간 분해능과 나노미터급 해상도를 제공합니다. 본 기술은 생명 과학, 신소재 연구 등 다양한 분야에서 미세 입자 분석의 새로운 지평을 열 것으로 기대됩니다.