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기존 광파 펄스 측정 방식은 비선형 물질 사용으로 특정 파장에 제한되거나, 진폭 및 위상 정보 없이 대략적인 펄스 모양만 제공하는 한계가 있었습니다. 본 기술은 이러한 문제를 해결하고자 이온화를 활용합니다. 기본 펄스와 측정 대상 신호 펄스를 이온화 물질에 집속하여 이온화시킨 후, 두 펄스 간 시간 지연에 따른 이온화 변화량을 정밀하게 측정합니다. 이때 신호 펄스의 전기장 세기는 기본 펄스보다 약하게 조절되며, 이온화율의 미분 함수와 신호 펄스의 상호상관 함수를 분석하여 광파의 진폭과 위상을 정확히 계산합니다. 이 방법은 종래 기술의 파장 제한 없이 광파의 시간에 따라 변화하는 정확한 펄스 모양을 제공하여, 레이저 기술 및 광학 연구 등 다양한 응용 분야에서 정밀한 광파 펄스 분석을 가능하게 합니다.
| 기술 분야 | 광학 계측 |
| 판매 유형 | 자체 판매 |
| 판매 상태 | 판매 중 |
| 기술명 | |
| 이온화를 이용한 광파의 진폭 및 위상 측정 방법 | |
| 기관명 | |
| 기초과학연구원 광주과학기술원 | |
| 대표 연구자 | 공동연구자 |
| 김경택 | - |
| 출원번호 | 등록번호 |
| 1020150161981 | 1016138820000 |
| 권리구분 | 출원일 |
| 특허 | 2015.11.18 |
| 중요 키워드 | |
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