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기존 배터리 활물질 연구는 미세구조와 전기화학적 성능 간의 관계를 명확히 규명하지 못하고, 특히 다양한 온도 조건에서의 분석에 한계가 있었습니다. 본 발명은 펠티어 타입 온도 조절 유닛을 포함하는 혁신적인 인시츄 X선 회절 분석 장치 및 방법을 제시합니다. 이 장치는 -10℃에서 80℃에 이르는 가변적인 온도 환경에서 전기화학 셀의 충전 및 방전 시 발생하는 미세구조 변화를 정밀하게 분석할 수 있습니다. 일정 전위기, X선 분석 장치, 그리고 온도 조절 유닛을 통합 제어하는 컨트롤러를 통해, 과전압 및 확산도 정보를 기반으로 최적의 지연 시간을 결정하여 준평형 상태에서도 정확한 X선 회절 분석이 가능합니다. 이를 통해 다양한 온도 조건에서 활물질의 상전이 특성과 성능 저하 메커니즘을 심층적으로 이해하여, 전기차 및 모바일 기기용 고성능 배터리 개발을 가속화할 수 있습니다.
| 기술 분야 | 전기화학 셀 X선 분석 |
| 판매 유형 | 자체 판매 |
| 판매 상태 | 판매 중 |
| 기술명 | |
| 펠티어 타입 온도 조절 유닛을 포함하는 인시츄 x선 회절 분석 장치 및 이를 사용한 분석 방법 | |
| 기관명 | |
| 서울대학교산학협력단 기초과학연구원 충남대학교산학협력단 | |
| 대표 연구자 | 공동연구자 |
| 성영은 | - |
| 출원번호 | 등록번호 |
| 1020200146385 | 1024305510000 |
| 권리구분 | 출원일 |
| 특허 | 2020.11.04 |
| 중요 키워드 | |
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