AI요약

기존 액상 투과전자현미경(TEM)은 나노입자 성장 관찰에 한계가 있어 복잡한 성장 메커니즘을 규명하기 어려웠습니다. 본 기술은 이러한 문제를 해결하고자 전자현미경 이미지 분석 방법을 제안합니다. 이미지를 획득한 후 노이즈 제거, 감마 보정, 에지 콘트라스트 증가 등 정교한 처리를 거쳐 이진화 이미지를 생성합니다. 이 이진화 이미지는 0과 1로 구성되어 컴퓨터를 통한 빠르고 정확한 분석에 최적화되어 있습니다. 이를 통해 나노입자의 크기, 위치, 성장 속도를 정밀하게 분석하며, 특히 유착 성장과 단량체 성장으로 분류하여 복잡한 나노입자 성장 메커니즘을 체계적으로 규명할 수 있습니다. 본 방법은 대량의 TEM 데이터를 효율적으로 분석하여 연구 효용성을 극대화하고, 고품질 나노입자 합성 제어 기술 발전에 크게 기여할 것입니다.