AI요약

기존 X선 홀로그래피 현미경은 대면적 샘플 측정 시 거리 제약으로 인해 조사 면적이 넓어져 분해능이 저하되고 노출 시간이 길어지는 문제가 있었습니다. 본 기술은 샘플의 자기상관 신호를 제거하여 레퍼런스와 샘플 사이의 거리 제약을 없애는 방식으로 이 문제를 해결합니다. 레퍼런스가 없거나 폐쇄된 상태의 홀로그램 이미지와 레퍼런스가 노출된 상태의 홀로그램 이미지를 각각 획득한 뒤, 이 두 이미지를 퓨리에 변환하여 비교하고 그 차이를 통해 숨겨진 샘플 이미지를 복원합니다. 이 방법을 통해 샘플과 레퍼런스 간 거리를 획기적으로 단축하여 대면적 샘플도 효율적으로 측정할 수 있습니다. 또한, 기존 대비 노출 시간을 크게 줄여 측정 비용 절감 및 샘플 손상 방지에 기여합니다.