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서지주요정보
Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM
서명 / 저자 Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM / Ray F. Egerton.
저자명 Egerton, R. F.
판사항 2nd ed.
발행사항 Switzerland : Springer, c2016.

소장자료

등록번호

0013337

소장위치/청구기호

과학문화센터 / 502.825 E29p2

도서상태

배가중

반납예정일

예약

서지기타정보

서지기타정보
ISBN 9783319398761▼q(print) 3319398768▼q(print) 9783319398778▼q(electronic bk.) 3319398776
청구기호 502.825 E29p2
형태사항 xi, 196 p. : ill. ; 24 cm.
언어 English
서지주기 Includes bibliographical references and index.
주제 Electron microscopy.
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