기술이전 상세 정보를 불러오는 중입니다...

기존 저온 물질 특성 측정은 자기장 영향, 복잡한 온도 보정 등으로 한계가 있었습니다. 본 발명은 이러한 문제를 해결하고자 자기장에 강하고 넓은 온도 범위에서 초정밀 측정이 가능한 SrTiO3 정전용량 온도계를 탑재한 저온 초정밀 열수송 측정용 프로브 시스템을 제공합니다. 이 시스템은 쉬운 시료 장착과 열 누설 최소화 설계를 통해 열 홀 효과, 스핀 너른스트 효과 등 물질의 다양한 물리적 특성을 극히 정밀하게 측정할 수 있습니다. 이를 통해 첨단 물질 연구의 정확성과 효율성을 혁신적으로 향상시킵니다.
| 기술 분야 | 초정밀 열수송 측정 |
| 판매 유형 | 자체 판매 |
| 판매 상태 | 판매 중 |
| 기술명 | |
| 저온 초정밀 열수송 측정용 프로브 시스템 및 이를 포함하는 측정장치 | |
| 기관명 | |
| 서울대학교산학협력단 기초과학연구원 | |
| 대표 연구자 | 공동연구자 |
| 박제근 | - |
| 출원번호 | 등록번호 |
| 1020190049063 | 1019924780000 |
| 권리구분 | 출원일 |
| 특허 | 2019.04.26 |
| 중요 키워드 | |
정전용량 측정 정밀도반도체 산업 센서열 홀 효과 측정극저온 물리 연구저온 초정밀 측정초정밀 온도 제어스핀 제벡 효과열수송 프로브 시스템스핀 너른스트 효과나노 장치 검출기SrTiO3 정전용량 온도계자기장 물성 분석열전도도 측정 장치첨단 소재 분석시료 특성 평가전자부품전자회로센서기술물질분석나노응용반도체/디스플레이 | |
기술이전 상담신청
연구자 미팅
기술이전 유형결정
계약서 작성 및 검토
계약 및 기술료 입금

보유 기술 로딩 중...
인기 게시물 로딩 중...